1. Андрюхина Т.Н. Определение параметров шероховатости поверхности по профилограмме Самара: СамГТУ, 2007.
2. Анурьев В. И. Справочник конструктора машиностроителя. М.: машиностроение, 1982.
3. Анухин В.И. Допуски и посадки. Учебное пособие. 4-е изд. СПб.: Питер, 2007. 207с
4. Арутюнов, П. А. Сканирующая зондовая микроскопия (туннельная и силовая) в задачах метрологии наноэлектроники [Текст] / П. А. Арутюнов, А. Л. Толстихина // Микроэлектроника. - 1997. - Т. 26, № 6. - С. 426-439.
5. Баранов, А. М. Новый универсальный метод контроля параметров слоев и шероховатости поверхности в процессах вакуумного осаждения и травления [Текст] / А. М. Баранов, С. А. Терешин, И. Ф. Михайлов // Журнал технической физики. -1997. - Т. 67, № 8. - С. 62-64.
6. Белкин И. М. Допуски и посадки. - М.: Машиностроение, 1992. 528 с.
7. Богатырев, А. Е. Новые методы контроля чистоты и дефектности поверхности деталей [Текст] / А. Е. Богатырев Л. И. Шушунова, Г. М. Цыганов // Обзоры по электронной технике. - 1980. - № 3 (707). - С. 19-27.
8. Взаимозаменяемость и контроль: Метод. Указания к практическим занятиям / Сост. В.Г. Котик; Чуваш. ун-т. Чебоксары, 2003. 24с.
9. Волков В.М. и др. Шероховатость поверхности (параметры, обозначение, нормирование) Учебное пособие. Омск: Омский государственный университет путей сообщения 2012. 65 с.
10. Волков Д. А. Исследование влияния шероховатости поверхности детали и гранулометрического состава порошкового материала на прочность сцепления при электроконтактной наплавке [Электронный ресурс]URL: http://www.dgma.donetsk.ua/science_public/ddma/Herald_3(28)_2012/article/12vdaaes.pdf
11. ГОСТ 2789—73 Шероховатость поверхности Параметры и характеристики [Электронный ресурс]URL: https://files.stroyinf.ru/Data2/1/4294847/4294847701.pdf
12. Дудин-Барковский, И. В. Измерение и анализ шероховатости поверхности и некруглости поверхности [Текст] / И. В. Дудин-Барковский, А. И. Карташева. - М. : Машиностроение, 1978. - 320 с.
13. Егоров, В. А. Оптические и щуповые приборы для измерения шероховатости поверхности [Текст] / В. А. Егоров. - М. : Машиностроение, 1965. - 222 с.
14. Когерентно-оптические методы в измерительной технике и биофотонике [Текст] / Под ред. В. П. Рябухо и В. В. Тучина. -Саратов : Сателлит, 2009. - 127 с.
15. Коледов, Л. А. Технология и конструкции микросхем, микропроцессоров и микросборок [Текст] / Л. А. Коледов. - СПб. : Издательство «Лань», 2007. - 400 с.
16. Корольков, В. П. Модернизация микроинтерферометров МИИ-4 и МИИ-4М [Текст] / В. П. Корольков, А. Е. Качкин,Р. В. Шиманский // Мир измерений. - 2012. - № 10. - С. 37-42.
17. Назаров, Ю. Ф. Методы исследования и контроля шероховатости поверхности металлов и сплавов [Текст] / Ю. Ф. Назаров,A. М. Шкилько, В. В. Тихоненко, И. В. Компанеец // Физическая инженерия поверхности. - 2007. - Том 5, № 3-4. - С. 307-316.
18. Невлюдов, И. Ш. Автоматизированный контроль шероховатости высокоточных деталей в приборостроении [Текст] : зб. наук. пр. / И. Ш. Невлюдов, В. В. Токарев // ХВУ. - 2001. - Вип. 5(35). - С. 196-199.
19. Невлюдов, И. Ш. Метод анализа интерференционных изображений при контроле параметров качества поверхности волоконно-оптических компонентов [Текст] / И. Ш. Невлюдов, А. И. Филипенко // Вісті Академії інженерних наук України: Машинобудування і прогресивні технології. Спец. Випуск. - 2004. - № 4(24). - С.81-87.
20. Невлюдов, И. Ш. Методология и оборудование контроля параметров компонентов волоконно-оптических систем передачи информации [Текст] / И. Ш. Невлюдов, А. И. Филипенко, Б. А. Малик // Прикладная радиоэлектроника: сб. АН Прикладной радиоэлектроники. - 2002. - Т. 1, № 1. - С. 51-56.
21. Невлюдов, И. Ш. Технология автоматизированного контроля качества поверхности [Текст] / И. Ш. Невлюдов, Е. П. Второв,B. В. Токарев // Вестник Харьковского экономического университета. - 1998. - Вып. 1. - С. 86-88.
22. Оптический профилометр на базе микроинтерферометра МИИ-4М [Электронный ресурс] / ЗАО «Дифракция», г. Новосибирск. - Режим доступа : http://www.diffraction.ru/products-ru/mii-4.
23. Полещук, А. Г. Лазерные методы контроля асферической оптики [Текст] / А. Г. Полещук, А. Е. Маточкин // Фотоника. -2011. - № 2. - С. 38-44.
24. Протопопов, В. В. Сравнительные измерения шероховатости подложек рентгеновских зеркал методами рентгеновской реф-лектометрии и сканирующей зондовой микроскопии [Текст] / В. В. Протопопов, К. А. Валиев, Р. М. Имамов // Кристаллография. - 1997. - Т. 42. - С. 747-754.
25. Пустыльник, Е.И. Статистические методы анализа и обработки наблюдений / Е.И. Пустыльник. М.: Наука, 1968. 158 с.
26. Розницин, И. Л. Определение оптимальных значений твердости, шероховатости поверхности материала, толщины наносимого покрытия для деталей объемного гидропривода [Текст] / И. Л. Розницин, Д. Б. Глушкова, В. П. Тарабанова, А. П. Люб-ченко // Вестник Харьковского национального автомобильно-дорожного университета. - 2009. - № 46. - С. 64-68.
27. Савенко, В.Г. Измерительная техника / В.Г. Савенко. М.: Высш. школа, 1974. 336 с.
28. Табенкин, А. Н. Шероховатость, волнистость, профиль. Международный опыт [Текст] / А. Н. Табенкин, С. Б. Тарасов,C. Н. Степанов. - СПб. : Изд-во Политехн. ун-та, 2007. - 136 с.
29. Уткин, В. Н. Исследование морфологии поверхности керамических подложек компонентов электронной техники [Текст] / В. Н. Уткин, М. А. Исаков, О. Е. Хапугин // Современные наукоемкие технологии. - 2007. - № 11. - С. 38-41.
30. Шероховатость от «МИКРОТЕХ®» [Текст] / Металлообработка. - 2008. - № 4. - С. 19.