ИССЛЕДОВАНИЕ ПОЛЯРИЗАЦИОННО-УГЛОВОГО РАСПРЕДЕЛЕНИЯ СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ

Синхротронное излучение является важным фактором формирования орбиты электронов и позитронов в накопителях. Оно обеспечивает сжатие пучка и создает условия накопления частиц на орбите. Создание синхротро-нов с энергией 1 ГэВ и выше существенно расширило спектр возникающего синхротронного излучения, сдвинув максимум спектра в область нескольких ангстрем - наиболее интересную для дифракционных структурных исследований. В это же время сильно увеличивалась интенсивность излучения. В последнее время интерес к использованию синхротронного излучения для химических, физических и биологических исследований резко возрос. Методы исследования, основанные на использовании синхротронного излучения, становясь сегодня основным неразрушающим инструментом для получения уникальных данных о свойствах и структуре веществ на уровне отдельных атомов, находят применение при проведении фундаментальных исследований и разработке передовых и абсолютно новых технологий для всех отраслей экономики – от материаловедения и структурной химии до наук о жизни, медицинских технологий. Проведение исследований с использованием современных синхротронных источников является неотъемлемой частью технологических процессов, в первую очередь в области наноиндустрии и метрологии. Большое достоинство синхротронного излучения заключается не только в высокой интенсивности, но и в малой угловой расходимости. Поэтому, кроме обычного метода поглощения, для получения изображений можно использовать рефракцию или рассеяние фотонов на границах раздела сред. На практике оказывается, что рефракция более чувствительна к изменению плотности среды, чем поглощение. Из-за этих уникальных параметров использование синхротронного излучения весьма эффективно в различных диагностических процедурах, например в ангиографии, денситометрии, — то есть там, где требуется высокое качество снимков. Развитие существующих производственных технологий и создание на их основе высокотехнологичных производств в таких отраслях экономики, как электроника, химическая, аэрокосмическая и фармацевтическая про-мышленность, машиностроение, эффективная добыча и глубокая переработка полезных ископаемых, ядерная энергетика, требуют получения при проведении синхротронных исследований серьезных научных и научно-технических результатов. Современные технологии требуют повышения точности контроля качества ключевых узлов и деталей создаваемой продукции, совершенствования технологических процессов, что может быть обеспечено только с применением синхротронного излучения. Немалый интерес представляет синхротронное излучение космических объектов, к примеру, нетепловой радиофон Галактики, нетепловое радио- и оптическое излучение дискретных источников (сверхновых звезд, квазаров, пульсаров). Синхротронная природа этих явлений подтверждается особенностями их спектра и поляризации. Согласно современным представлениям, релятивистские электроны, входящие в состав космических лучей, дают синхротронное излучение в космических магнитных полях в радио-оптическом, а возможно, и в рентгеновском диапазонах. Спектр возможных применений синхротронного излучения необычайно широк и постоянно увеличивается в связи с тем, что совершенствуются источники синхротронного излучения (увеличивается яркость генерируемого пучка, степень временной и пространственной когерентности, диапазон доступных энергий), развиваются методы и подходы, позволяющие исследовать новые объекты и получать ранее недоступную информацию. Целью данной работы является анализ синхротронного излучения методом решения задач об излучении электрона и расчета компонент линейной поляризации. Для достижения этой цели необходимо решить следующие задачи: - изучить поляризационно-угловые свойства синхротронного излуче-ния; - рассчитать компоненты линейной поляризации; - построить трехмерные модели индикатрис излучения; - рассмотреть перспективы применения синхротронного излучения.